本次活动已经圆满结束。感谢您的关注和参与。
研讨会简介
半导体测试是半导体生产过程中的重要环节，其中测试机是检测芯片功能和性能的专用设备。对于需要高性能、高性价比解决方案的 IC 测试应用，ADI 提供整体的解决方案包括集成式引脚电子器件 (PE)、器件电源 (DPS) 和参数测量单元 (PMU)。
这些特定 ATE 应用的产品以及 ADI 标准产品的各种组合能够为客户提供满足各种测试要求的解决方案。本次研讨会 ADI 资深专家将为大家介绍 ADI ATE ASSP 产品及相关解决方案，让大家更深入了解 ATE 产品知识，提高研发效率。
主讲嘉宾
蔡振宇 • ADI 中国区工业市场总监
拥有多年的半导体行业经验，2019 年 6 月加入 ADI 负责 ADI 中国区工业产品市场推广工作，如市场策略制定、新产品定义、新方案支持等。
黄健杰 • ADI 中国区仪器和测试测量系统应用经理
2017 年加入 ADI，负责 ADI 亚太区的仪器和测试测量业务，主要为客户提供相关解决方案和技术支持，例如源表、示波器、信号源等桌面仪器方案。另外 ATE 相关的半导体测试解决方案也是近几年重点关注的领域。
答疑嘉宾
杨永利 • 澳门人巴黎人1797现场应用工程师
2019 年初加入澳门人巴黎人1797，有多年窄带低压电力载波通信及用电信息采集系统产品的研发设计经历。负责 ADI 产品技术支持，专注于 ATE 半导体测试设备、电源和信号链产品、工业、电力、仪器仪表的应用和推广。
李兆明 • 澳门人巴黎人1797现场应用工程师
2012 - 2018 年担任企业高级硬件工程师，负责电路开发设计。2018 年 6 月加入澳门人巴黎人1797，负责 ADI 产品技术支持、应用和推广，在信号链和电源领域有丰富的经验。
直播礼品
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